形貌轮廓仪

     KC系列三合一精测显微镜现已广泛应用于各行各业的新型材料研究、精密工程技术等基石研究领域。产品可非接触、高精度地获取样品表面的微观形貌,生成基于高度的彩色三维点云,全程以数据图形化的方式进行显示、处理、 测量、分析。

产品特点

1、处理功能

1）3D显示：支持以三维高度色彩模型、点云模型、网格模型显示扫描区域，模型可移动、旋转、缩放、调节高度比例，照明角度、背景颜色、色卡刻度颜色、照明强度、图像品质、标尺颜色、标尺位置可调节，可叠加回光强度纹理、真彩色以凸显图像细节；

2）高度显示：支持高度-色彩对应关系调节、色彩模板调节；

3）基准面设置：支持以选定的区域作为基准平面校平模型，支持指定高度偏移、绕XY轴倾斜角度校平模型；

4）反转处理：支持沿高度方向、垂直方向、水平方向反转模型；

5）平滑处理：支持以简单平均、高斯滤波、中值滤波方式平滑模型表面形貌；

6）高度削减：支持以规定高度差异程度的方式去除异常点；

7）光强滤波：支持以调节光强阈值的方式去除异常点；

8）区域裁剪：支持以选定的区域覆盖原文件或另存为新文件；

9）重置：支持一键撤销所有处理操作，恢复为原始图像；

10）导出点云：支持将当前图像导出为.csv文件，包含所有点位的XYZ位置与反光强度数据；

2、测量功能

1）平面测量：支持在二维高度色彩图中通过点、线、圆、角等工具测量平面数据；

2）轮廓测量：支持在二维高度色彩图中通过点、线、圆等工具创建横截面轮廓，测量距离、圆弧半径、角度、横截面积、截面长度等轮廓数据；

3）平均台阶：支持测量选定区域的平均高度、高度极值、高度差极值以及多个区域间的高度差；

4）点高度测量：支持在二维高度色彩图中测量高度差、高度极值；

5）峰谷统计：支持设置基准高度上下限以自动识别峰、谷，测量峰、谷数量与横截面积，可通过设置滤波核大小、峰谷最小高差去除异常峰、谷；

6）体积面积：支持设置基准面高度以自动识别凸面、凹面，测量凸起、凹陷的体积、横截面积、表面积；

7）线条粗糙度：支持在二维高度色彩图中通过点、线、圆等工具创建线条粗糙度轮廓，测量Ra、Rp、Rq、Rv、Rz数据；

8）辅助工具：支持在平面测量、轮廓测量、线条粗糙度中自动完成极值点、中点、中线、交点的拟合以及边缘抽取；

9）表面粗糙度：支持测量选定区域的Sa、Sz、Sdr数据；

10）平面度测量：支持测量选定区域的FLTt、FLTp、FLTv、FLTq数据；

11）数据保存：所有测量结果支持保存为xlsx文件；

12）测量选项：支持调节线条颜色与宽度、文字颜色与字体、长度单位